Kết hợp hình ảnh kính hiển vi ánh sáng và hình ảnh đồng tiêu
LSM 900, nền tảng tiêu điểm cao cấp được tạo ra cho các ứng dụng vật liệu ở cả dạng 2D và 3D.
- Đặc trưng cấu trúc địa hình và đánh giá độ nhám bề mặt với hình ảnh tiêu điểm không tiếp xúc
- Xác định độ dày của lớp phủ và màng mỏng không phá hủy
- Sử dụng một loạt các kỹ thuật hình ảnh bao gồm phân cực và huỳnh quang trong độ tương phản quang học hoặc ở chế độ đồng tiêu
- Đặc trưng cho các mẫu vật kim loại trong ánh sáng phản xạ hoặc đá mỏng hoặc polyme trong ánh sáng truyền qua
Phân tích mẫu hiệu quả
Giảm thời gian thiết lập và tăng tốc thời gian cho ra kết quả bằng cách thực hiện phân tích và chụp ảnh mà không phải điều chỉnh kính hiển vi.
- Tối ưu hóa các quy trình của bạn với việc thu thập dữ liệu tự động ở nhiều vị trí trên mẫu của bạn
- Chỉ cần xác định khu vực quan tâm (ROI) trên hình ảnh tổng quan và chỉ lấy khu vực cần
- Linh hoạt về kích thước và hướng của ROI với trường quét 6144 x 6144 pixel
- Kiểm soát hoàn toàn dữ liệu của bạn
Mở rộng phạm vi hình ảnh của bạn
Một đơn vị tiêu điểm mở rộng khả năng điều tra trường rộng của bạn:
- Nâng cấp Axio Imager.Z2m hoặc Axio Observer 7 với LSM 900 và tận dụng tính linh hoạt của nó trong phần cứng, ví dụ: vật kính, giá đỡ kính và hệ thống chiếu sáng cũng như phần mềm và giao diện
- Thêm ZEISS ZEN Intellesis, một giải pháp dựa trên thiết bị để phân đoạn hình ảnh và xác định các pha
- Hoặc thêm ZEISS ZEN Connect để tạo lớp phủ và sắp xếp hình ảnh từ bất kỳ nguồn nào khi thực hiện thử nghiệm đa phương thức
- Hoặc thực hiện quản lý dữ liệu thông minh với Bộ lưu trữ dữ liệu ZEISS ZEN
EN